英国Oxford牛津ETP孔铜探头(CMI500/CMI700专用)
ETP孔铜探头测试技术参数：
专用于Oxford牛津CMI511（CMI500）孔铜测厚仪、CMI760（CMI700）座台式孔面铜测厚仪
可测试最小孔直径：35 mils (899 μm)
测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）
分辨率： 0.01 mil(0.1 μm)
显示 6位LCD数显
测量单位 um-mils可选
统计数据 平均值、标准偏差、最大值max、最小值min
接口 232串口,打印并口
电源 AC220
仪器尺寸 290x270x140mm
仪器重量 2.79kg
英国Oxford牛津SRP-4面铜探头（CMI700/CMI600/CMI563/专用）
SRP-4面铜探头测试技术参数
专用于Oxford牛津CMI760(CMI700)座台式孔面铜测厚仪
铜厚测量范围：
化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
英国Oxford牛津SRP-T1面铜探头/探针（CMI165专用）
SRP-T1探头：CMI165专用可更换探针
牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头，综合运用微电阻原理及温度补偿技术，使其成为世界上首家
推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。
牛津Oxford CMI511便携式孔铜测厚仪 CMI500
CMI511 便携孔内镀铜测厚仪
仪器介绍
第一台带温度补偿功能的测量孔内镀铜厚度的测厚仪CMI511是手持的电池供电的测厚仪。它能于侵蚀工序前、后，测量孔内镀层厚度。独特的设计使CMI500能够完全胜任对双层或多层电路板的测量，甚至可以穿透锡和锡/铅抗蚀层进行测量。
CMI511独有的温度补偿特性使其适用于在电镀过程中进行厚度测量，从而降低废料、返工成本。
CMI511便携式孔铜测厚仪
孔铜测厚仪的应用
测试蚀刻前后的孔内镀铜厚度
行业
PCB制造厂商及采购买家
技术参数
--可测试最小孔直径：35 mils (899 μm)
--测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
--电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
--准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
--精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）
--分辨率：0.01 mils (0.1μm)
--校正方式: 单点标准片校正
--显示屏: 高亮度液晶显示屏，1/2英吋(1.27mm)高
--单位: 以按键切换公制(um)及英制(mils)单位选择
--连接阜: RS-232连接阜，用于将数据传输至计算机或打印机
--统计数据: 量测点数、平均值、标准差、最高值、最低值、由打印机可输出直方图或CPK图
--储存量: 2000条读数
--重量: 9OZ(0.26Kg)含电池
--尺寸: 149*794*302 mm
--电池: 9伏干电池或可充电电池
--电池持续时间: 9伏干电池－50小时 9伏充电电池－10小时
--打印机: 任意竖式热感打印机
--按键: 密封膜，增强-16键
便携孔内镀铜测厚仪生产厂商:牛津仪器
牛津Oxford CMI760线路板孔面铜测厚仪 CMI700
CMI 700专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。
CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。
同时CMI 760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。
CMI 700配置包括：
CMI 700主机及证书
SRP-4探头
SRP-4探头替换用探针模块（1个）
NIST认证的校验用标准片及证书
选配配件：
ETP探头 TRP探头 SRG软件
SRP-4面铜探头测试技术参数：
铜厚测量范围：
化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
ETP孔铜探头测试技术参数：
可测试最小孔直径：35 mils (899 μm)
测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）
分辨率： 0.01 mil(0.1 μm)
显示 6位LCD数显
测量单位 um-mils可选
统计数据 平均值、标准偏差、最大值max、最小值min
接口 232串口,打印并口
电源 AC220
仪器尺寸 290x270x140mm
仪器重量 2.79kg
INTRON ITM-525线路板孔铜壁厚测量仪
$俄罗斯
INTRON ITM-52孔铜测厚仪探头EP-30,EP-25,EP-20
$俄罗斯
UPA CD-8通孔涂镀层测厚仪
$美国
牛津Oxford CMI760 PCB专用铜厚测试仪
$英国
牛津Oxford CMI511便携式孔铜测厚仪
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Milum mm805双功能PCB孔铜面铜测厚仪
$美国
Milum mm610 PCB孔铜测厚仪
$美国
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$台湾