Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。
Compact ECO具有小巧独特的设计，为您尽可能节省成本，是进口荧光分析仪最实惠的产品，适合中小工件的测量，功能实用，准确性高，是五金、首饰、端子等行业的首选。
规格参数：
高压电源:25-50KV，1.2mA
X光管：钨(W)靶,光点0.5mm*0.5mm
准直器：
单准直器：0.3mm或0.5mm
样品台： NO XY,Z60mm
样品定位： 手动定位
放大倍数： 20 X
外型尺寸： H35 cm，W40 cm，D60 cm
样品室(测试箱)： H 6 cm，W38 cm，D37cm
主电源： 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ
X - MasteR： 操作系统 WINDOWS 2000 / NT/XP
u- MasteR： 测量模式：单层、双层、三层、四层、合金层，可测元素范围：Ti-U
Fun-MasteR：基本参数法(FP)校对模组，可实现标准片校对模式及无标准片校对模式
Element-MasterR：定性分析模组，一次最多可分析20种元素(针对合金材料)
%-MasteR：定量分析模组，一次最多可分析20种元素(针对合金材料)
Liquid-MasteR：电镀药液分析模组(针对药液主成份金属离子浓度)
Data-MasteR：资料统计模组，最小值、最大值、平均值、误差，统计图表CP、CPK等
Report-MasteR：报告编辑模组，文本格式，Word格式
多元合金或贵金属成色分析：K金、纯金、纯银、饰银、铜材、钢材等
多层电镀厚度分析：Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn等
自动计算可测厚度范围
无论是很大的汽车部件、卫浴器具、PCB，还是很小的半导体支架、接插端子、金银首饰，德国ROENALYTIC宏德公司都一一有理想的仪器去进行测量。德国ROENALYTIC宏德提供的都是高效率、低成本的测量仪器，它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析，简单易用，维修方便，绝对是节省生产成本及保证品质的好帮手。
MicroPioneer XRF2000 X射线金属镀层测厚仪
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