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MicroPioneer XRF2000金属镀层测厚仪

产品名称:  MicroPioneer XRF2000金属镀层测厚仪

产品品牌:  MicroPioneer

产品型号:  XRF-2000H

产品产地:  韩国

 

萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  
XRF-2000 系列分为以下三种:  
1. H-Type :
密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。  
2. L-Type : 
密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。  
3. PCB-Type : 
开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测    

应用 : 
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )   

行业 : 
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。   

特色 :
非破坏,非接触式检测分析,快速精準。 
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 
相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告  
全系列独特设计样品与光径自动对準系统。 
标準配备溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。 
準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。  
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差   
独特2D3D或任意位置表面量测分析。 
雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告  
光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。  

单位选择: mils  uin  mm  um  
优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。  
仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。 
测试方法符合 ISO 3497  ASTM B568  DIN 50987 


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